pon網絡(luo)全(quan)面(mian)測試解決方案-解決(jue)方案(an)-福(fu)光電子(zi) - glseo.cc

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    pon網絡全面(mian)測試解決(jue)方(fang)案
    發表(biao)時間:2019-01-04

    随着(zhe)互聯(lian)網通信的(de)飛速(su)發展,銅纜接入(ru)已越來越(yue)不能(neng)滿足用戶的需要。單(dan)模光纖的(de)發展,加(jia)之其接(jie)近無(wu)限的(de)帶寬(kuan),使fttx 正在成(cheng)爲當(dang)前流行的(de)接入(ru)方式,epon/gpon 也因爲(wei)其(qi)成熟(shu)簡單而成(cheng)爲其(qi)中的(de)主流(liu)。

    一、在(zai)pon系統安裝(zhuang)或維護過(guo)程中(zhong),需要對各測試(shi)參考節(jie)點處的輸入(ru)和(he)輸出功(gong)率進(jin)行精确測(ce)量。而pon系統的單(dan)纖雙(shuang)向(xiang)三(san)波長(zhang)傳輸(shu)、上行(hang)tdma受激(ji)發光等特(te)性,導緻傳統的光功(gong)率計無法對各(ge)節點處的光功(gong)率進行測量。福(fu)光電(dian)子提(ti)供的(de)fg512n pon 光功(gong)率(lü)計解決了(le)這(zhe)一測(ce)量難(nan)題。

    二、在(zai)pon系統(tong)光(guang)線路方面(mian);在線(xian)路安裝階段采(cai)用福(fu)光fg512n pon光(guang)功率(lü)計與fg520p pon光(guang)源配合(he)使用(yong)進行光路1310、1550、1490nm窗口的(de)損(sun)耗測試;在(zai)服(fu)務激活(huo)與故障維(wei)護階(jie)段采用yokogawa的aq7275系列(lie)pon otdr進行測試。

    三、在(zai)pon系統的業務層測量方(fang)面,針對(dui)epon系統(tong),傳輸(shu)性能(neng)測試(shi)歸根(gen)結底(di)是以(yi)太網的數據傳輸性(xing)能測(ce)試,因此可(ke)以利(li)用已用的(de)rfc2544測試(shi)方(fang)法來解決性(xing)能驗證方面的(de)問題。具體包括(kuo):吞吐量、時(shi)延、幀(zhen)丢失、背靠(kao)背、誤(wu)碼率等(deng)指标的(de)測試,福光(guang)電子提供的ms2以太網(wang)測試(shi)儀将損耗(hao)和吞(tun)吐量(liang)放在(zai)一(yi)起測試。

    四、pon系(xi)統的多(duo)業(ye)務融(rong)合特(te)性也對光(guang)回損指(zhi)标(biao)提出了更高要求,當(dang)orl指(zhi)标不夠優良(liang)時,将會産生諸(zhu)如模(mo)拟視(shi)頻信(xin)号失真等問題(ti)。我們可以采用otdr來鑒(jian)定orl,也可以(yi)采用更精确的光回損測(ce)試儀來進(jin)行(hang)orl指(zhi)标的測試,當大的回(hui)損是由于連接(jie)器産(chan)生時,福光(guang)電子也提(ti)供光纖端(duan)面(mian)放大鏡(jing)來進(jin)行(hang)檢測。

    方案(an)配置儀表:

    《pon網(wang)絡全面測(ce)試(shi)維護解(jie)決方案》詳(xiang)細内容,歡迎與(yu)我司(si)工程師聯(lian)系(xi)索取。()

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