fg-3000 室分鏈路測試(shi)套裝-産品(pin)中心-福光(guang)電(dian)子 - glseo.cc

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    fg-3000 室分(fen)鏈路(lu)測試套裝
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    在實際的基(ji)站設(she)計和建設過程(cheng)中,工程人員把注意力集(ji)中在(zai)下行鏈(lian)路(lu)的覆(fu)蓋和優化(hua)方面,而忽視了上行(hang)鏈路對整個系(xi)統的 影(ying)響(xiang)。這樣,就會在(zai)基(ji)站建(jian)成啓(qi)用之(zhi)後,出(chu)現接(jie)收終端信号顯示充(chong)足,但卻異(yi)常掉(diao)話甚(shen)至無法呼出的現象。這種(zhong)故障(zhang)通常(chang)都是(shi)天饋(kui)系統的上行鏈路和下行鏈路(lu)在信号(hao)強度上出現(xian)了不平衡導緻的(de)。下(xia)行鏈(lian)路損(sun)耗是否(fou)過大有(you)很(hen)多方法(fa)可以測(ce)試;但是(shi),測量(liang)上行鏈路(lu)損(sun)耗時(shi),接收終(zhong)端不可能作爲(wei)穩定(ding)的信(xin)号源(yuan),因此有(you)便攜、穩(wen)定功率(lü)的射頻(pin)源就(jiu)顯得尤爲(wei)重要。室分系統(tong)爲上行受限系(xi)統,上(shang)行損耗過(guo)大的(de)故障占鏈(lian)路(lu)不平衡故障(zhang)中的(de)絕大(da)部分(fen),而查找是連接(jie)點還是連接器件的(de)問(wen)題就需(xu)要有專用的鏈(lian)路設(she)備進(jin)行測(ce)試。

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